IGBT-транзистор (SPICE-модель)#

block

Внешний вид блока в REPEAT VISION#

 Блок IGBT-транзистор (SPICE-модель) представляет собой SPICE-модель IGBT-транзистора, которая построена в соответствии с [1]. Блок реализует следующую схему замещения:

Схема замещения

Схема замещения#

 Модель построена на дифференциальных уравнениях, описывающих схему замещения и физические процессы, происходящие в транзисторе. В модели используются следующие уравнения:

  • Первоначально рассчитываются параметры, которые не изменяются в процессе моделирования (1):

(1)#\[\begin{split}VTemp=\frac{k \cdot T}{q},\\b=\frac{MUN}{MUP},\\ D_p=MUP \cdot VTemp,\\ Q_{bi}=AREA \cdot \sqrt{2 \cdot \epsilon_{si} \cdot q \cdot NB \cdot 0.6}\end{split}\]
  • Уравнения, расчет которых осуществляется в процессе моделирования (2):

(2)#\[\begin{split}I_{MOS}= \begin{cases}GMIN \cdot V_{ds} , & \ V_{gs}<VT\\\frac{KF \cdot KP[(V_{gs}-VT)\cdot V_{ds}-\frac{KF \cdot V_{ds}^2}{2}]}{[1+THETA \cdot (V_{gs}-VT)]}+GMIN \cdot V_{ds}, & V_{ds \leq \frac{(V_{gs}-VT)}{KF}}\\\frac{KP \cdot(V_{gs}-VT)^2}{2\cdot[1+THETA \cdot(V_{gs}-VT)]}+GMIN \cdot V_{ds},&V_{ds}>\frac{(V_{gs}-VT)}{KF} \end{cases},\\ N_{scl}=N_B+N_{sat},\\ W_{dsj}= \sqrt{\frac{2 \cdot \epsilon_{si}\cdot (V_{ds}+0.6)}{q \cdot N_{scl}}},\\ C_{ds}=\frac{(AREA - AGD)\cdot \epsilon_{si}}{W_{dsj}},\\ W_{gdj}=\sqrt{\frac{2 \cdot \epsilon_{si} \cdot(V_{dg}+VTD)}{q \cdot N_{scl}}},\\ BV_{cbo}=BVF \cdot 5.34 \cdot 10^{13} \cdot N_{scl}^{-0.75},\\ M=\frac{1}{1-(\frac{V_{cb}}{BV_{cbo}})^{BVN}},\\ I_{gen}=\frac{q \cdot n_i \cdot AREA}{TAU} \cdot \sqrt{\frac{2 \cdot \epsilon_{si} \cdot V_{bc}}{q \cdot N_{scl}}},\\ C_{gdj}=\frac{AREA \cdot \epsilon_{si}}{W_{gdi}},\\ C_{gd} = \frac{C_{gdj}\cdot COXD}{C_{gdj} + COXD},\\ W_{bcj}=\sqrt{\frac{2 \cdot \epsilon_{si} \cdot (V_{bc}+0.6)}{q \cdot N_{scl}}},\\ C_{bcj}=\frac{AREA \cdot \epsilon_{si}}{W_{bcj}},\\ W=W_B - W_{bcj},\\ Q_B=q \cdot AREA \cdot W \cdot N_{scl},\\ C_{cer}=\frac{Q \cdot C_{bcj}}{3 \cdot Q_B},\\ I_{CSS}=\begin{cases}0 , & \ Q<0\\\frac{4 \cdot D_p \cdot Q}{W^2} \cdot (\frac{b}{1+b})-I_{COLL} \cdot (\frac{b}{1+b}), & Q\geq 0 \end{cases},\\ I_{mult}=(M-1) \cdot (I_{mos}+I_{css}+I_{qcer})+M \cdot I_{gen},\\ MUPc= \frac{1}{1/MUP +1/MUC},\\ MUNc= \frac{1}{1/MUN + 1/MUC},\\ D_c=\frac{2 \cdot VTemp \cdot MUPc \cdot MUNc}{MUPc + MUNc},\\ L=\sqrt{D_c \cdot TAU},\\ P_o=\frac{Q}{q \cdot AREA \cdot L \cdot tanh(\frac{W}{2 \cdot L})},\\ \delta_p=\frac{P_o \cdot sinh(\frac{W}{2 \cdot L})}{sinh(\frac{W}{L})},\\ \mu_{eff}=MUNc+\frac{MUPc \cdot Q}{Q+Q_B},\\ n_{eff}=\frac{\frac{W}{2 \cdot L}\cdot \sqrt{N_B^2 + P_o^2 \cdot csch^2(\frac{W}{L})}\cdot tanh(\frac{W}{2 \cdot L})}{arctanh[\frac{\sqrt{N_B^2 +P_o^2 \cdot csch^2(\frac{W}{L})\cdot tanh(\frac{W}{2\cdot L})}}{N_B +P_o \cdot csch(\frac{W}{L})\cdot tanh(\frac{W}{2 \cdot L})}]},\\ R_B= \begin{cases}\frac{W}{q\cdot MUNc \cdot AREA \cdot N_B} , & \ Q<0\\\frac{W}{q\cdot \mu_{eff} \cdot AREA \cdot n_{eff}}, & Q\geq 0 \end{cases},\\ I_{bss}=\begin{cases}0 , & \ Q<0\\\frac{Q}{TAU}+\frac{4 \cdot Q^2 \cdot N^2_{scl} \cdot Isne}{Q^2_B \cdot n_i^2}, & Q\geq 0 \end{cases},\\ V_{ebj}=0.6 - \frac{(Q-Q_{bi})^2}{2 \cdot q \cdot N_B \cdot \epsilon_{si} \cdot AREA^2},\\ V_{ebd}=VTemp \cdot ln[(\frac{P_o}{n_i^2})\cdot (N_B+P_o)]-\frac{D_c}{NUNc}\cdot ln(\frac{P_o+N_B}{N_B}),\\ V_{ebq} =\begin{cases}V_{ebj} , & \ Q<0\\min(V_{ebj}, V_{ebd}), & Q_{bi}>Q\geq 0\\V_{ebd},&Q\geq Q_{bi} \end{cases},\\ I_{qdg}=\frac{dV_{dg}}{dt} \cdot C_{gd},\\ I_{qds}=\frac{dV_{gs}}{dt} \cdot C_{gs},\\ I_{qds}=\frac{dV_{ds}}{dt} \cdot C_{ds},\\ I_{qcer}=\frac{dV_{ec}}{dt} \cdot C_{cer},\\ I_{qeb}=\frac{dQ}{dt}\end{split}\]

1.  Свойства#

Свойство

Значение по умолчанию

Описание

Единицы измерения

AGD – Площадь перекрытия Затвор-Сток

0.000005

–

м\(^2\)

AREA – активная площадь транзистора

0.00001

–

м\(^2\)

BVF – коэффициент однородности лавинного пробоя

1.0

–

–

BVN – показатель степени лавинного пробоя

4.0

–

–

CGS – емкость перехода затвор-исток

0.6e-9

–

Ф

COXD – емкость оксида затвор-сток

33.0e-9

–

Ф

JSNE – плотность тока насыщения эмиттера

6.0e-14

–

А/см\(^2\)

KF – коэффициент области триода (температурный коэффициент)

1.0

–

–

KP – коэффициент крутизны канала МОП

0.38

–

–

MUN – мобильность электронов

1500

–

см\(^2\)/В

MUP – мобильность дырок

450

–

см\(^2\)/В

NB – легирование базы

2.0e14

–

см\(^{-3}\)

TAU – время амбиполярной рекомбинации

1.0e-6

–

с

THETA – коэффициент поперечного поля

0.02

–

1/В

VT – пороговое напряжение канала МОП

5.0

–

В

VTD – порог обеднения перекрытия затвор-сток

0.0

–

В

WB – металлургическая ширина базы

0.000093

–

м

Vnsat – скорость насыщения дырок

1.1e7

–

см/с

Vpsat – скорость насыщения электронов

0.95e7

–

см/с

ALPHA1 – коэффициент передачи тока биполярного транзистора

1.428e20

–

–

ALPHA2 – коэффициент рекомбинации

4.54e11

–

–

T – температура транзистора

27.0

–

Градусы Цельсия

2.  Входы и выходы#

Параметры

Вход/Выход

Описание

Единицы измерения

Тип порта

C

Вход

Коллектор

-

Электроника

G

Вход

Затвор

-

Электроника

E

Выход

Эмиттер

-

Электроника

 Для того, чтобы посмотреть возможности подключения блока необходимо перейти на страницу Описание портов блоков

3.  Источники#